介质损耗和介电常数测试仪操作步骤-厦门科王电子
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/。

介电常数测试方法与步骤
1.把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
2.在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。
3.被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平整。
4.调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO清零按键,初始值设置为0。
1.再松开两片极片,把被测样品夹入平板电容上下极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,直到平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量(旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量),使主机处于谐振点(Q值最大值)上。
2.取出S916测试夹具中的样品,这时主机又失去谐振(Q值变小),此时调节S916测试夹具的测微杆,使主机再回到谐振点(Q值最大值)上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.
3.计算被测样品的介电常数:
Σ=D2/D4
介质损耗测试方法与步骤
1.分布容量的测量
a)选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;
b)将调谐电容器调到最大值附近500P左右,令这个电容是C1,
c)按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q1;
d)将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,测出材料厚度后取出材料,调回到刚才材料厚度,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C2,Q值读数为Q2。
机构电容的有效电容为:Cz=C1-C2
分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0(参考电感的技术说明)的和电容器损耗角正切为
1.把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
2.在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。
3.被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。
4.调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值最大值)上,然后按一次主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将显示C0=xxx,记住厚度D2的值。
5.取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值最大值)上。
6.第二次按下主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn=.xxxxx,即完成测试。
7.出错提示,当出现tn=NO显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1≤Q2和C1≤C2的错误情况。
[免责声明]本文来源于网络,不代表本站立场,如转载内容涉及版权等问题,请联系我们会予以删除相关文章,保证您的权利。转载请注明出处






